P. Vacula, V. Kote, D. Barri, M. Vacula, M. Husak, J. Jakovenko, S. Privitera
Comparison of MOSFET Gate Waffle Patterns Based on Specific On-Resistance
Číslo: 3/2019
Periodikum: Radioengineering Journal
DOI: 10.13164/re.2019.0598
Klíčová slova: Power MOSFET, waffle MOSFET, specific on-resistance, integrated circuits
Pro získání musíte mít účet v Citace PRO.