Advances in Electrical and Electronic Engineering
Číslo: 3/2018
Pro získání musíte mít účet v Citace PRO.
Články
-
Perspective of Buried Oxide Thickness Variation on Triple Metal-Gate (TMG) Recessed-S/D FD-SOI MOSFE...
Anjali Priya, Nilesh Anand Srivastava, Ram Awadh Mishra