H. S. Silva, M. S. de Alencar, W. J. L. de Queiroz, R. de A. Coelho, F. Madeiro
Bit Error Probability of M-QAM under Impulsive Noise and Fading Modeled by Markov Chains
Číslo: 4/2018
Periodikum: Radioengineering Journal
DOI: 10.13164/re.2018.1183
Klíčová slova: Markov chains, eta-mu fading, kappa-mu fading, bit error probability, impulsive noise
Pro získání musíte mít účet v Citace PRO.