R. Yang, F. Wan, J. Nebhen, S. Lallechere, B. Ravelo
Parametric Geometrical Study of OOO-Microstrip Circuit with Dual-Band Bandpass NGD Behavior
Číslo: 2/2021
Periodikum: Radioengineering Journal
DOI: 10.13164/re.2021.0304
Klíčová slova: Negative group delay (NGD), bandpass NGD function, dual-band frequency, OOO-microstrip circuit, parametric analyses
Pro získání musíte mít účet v Citace PRO.